| 測試項目匯總 | |||
| 1 | X射線光電子能譜（XPS） | 42 | 凝膠色譜儀（GPS） |
| 2 | X射線光電子能譜（AR-XPS） | 43 | 離子色譜儀（IC） |
| 3 | X射線衍射儀（XRD） | 44 | 氣/質聯用儀（GC/MS） |
| 4 | X射線熒光光譜儀（XRID） | 45 | 液質聯用（LC-MS） |
| 5 | （TG-DTA）室溫~800℃ 室溫~1000℃ 室溫~1200℃ | 46 | 等離子體光譜儀ICP-OES |
| 6 | （TG-DSC）室溫~800℃ 室溫~1000℃ 室溫~1200℃ | 47 | ICP-OES全掃描 |
| 7 | Zate電位測試 | 48 | 組織樣品ICP測全鐵含量 |
| 8 | 孔徑與比表面積分析 | 49 | 普通酸消解制樣費 |
| 9 | X射線光電子能譜（XPS） | 50 | HF/王水消解制樣費 |
| 10 | 元素分析儀（EA） | 51 | EA測C，H，N，S，O元素 |
| 11 | AFM形貌粗糙度 | 52 | DSC/DTA-TG（5℃/min）（10℃/min） |
| 12 | 場發射掃描電鏡（SEM） | 53 | 共聚焦拉曼光譜儀（Raman） |
| 13 | SEM-EDS（點掃）（線掃）（面掃） | 54 | 紅外氮氧儀 |
| 14 | 環境掃描電鏡（ESEM） | 55 | 紅外碳硫儀 |
| 15 | TEM-EDS（點掃）（線掃）（面掃） | 56 | 傅里葉紅外光譜儀（FTIR） |
| 16 | 粉末/液體 透射電鏡（TEM） | 57 | 氫譜 |
| 17 | 生物樣本透射電鏡（TEM） | 58 | 碳譜 |
| 18 | TEM染色制樣 | 59 | 比熱（800℃以下）（1200°C以下） |
| 19 | 磁性粉末TEM/HRTEM | 60 | 物鏡球差透射（AC-TEM） |
| 20 | 聚光鏡球差透射（AC-STEM） | 61 | 智能重量分析（IGA） |
| 21 | 全自動物理吸附儀（介孔BET）（微孔BET） | 62 | 蛋白質含量檢測 |
| 22 | 激光粒度分析 | 63 | 氨基酸含量檢測 |
| 23 | 拉曼分析 | 64 | 電子背散射衍射（EBSD） |
| 24 | 鹵素水分測定儀（固含量測試分析） | 65 | PFM壓電力顯微鏡 |
| 25 | 粘度分析 | 66 | 臺階儀/輪廓儀（三維輪廓） |
| 26 | 透光率/霧度分析 | 67 | 聚焦離子束（FIB） |
| 27 | 涂層附著力 | 68 | 接觸角測試（水接觸角） |
| 28 | 涂層方塊電阻（四探針測試） | 69 | 電子萬能試驗機 |
| 29 | 熱輻射率（雙波段發射率測試） | 70 | 超導量子干涉磁測量系統 （SQUID） |
| 30 | 松裝密度 振實密度 | 71 | 高壓吸附儀 |
| 31 | 體積電阻率（粉體）（液體） | 72 | 靜態熱機械分析（TMA） |
| 32 | 液體微量水分 | 73 | 熱膨脹分析儀 |
| 33 | 灰分測試 | 74 | 矢量網絡分析儀（VNA） |
| 34 | 金屬離子含量（原子吸收光度） | 75 | PL穩態譜（含激發和發射） |
| 35 | 固體核磁共振儀（NMR） | 76 | PL瞬態譜（熒光壽命） |
| 36 | 總有機炭分析儀（TOC） | 77 | PL量子產率 |
| 37 | 總氮分析儀（TM） | 78 | 化學吸附儀（TPD-MS）（H2-TPR）（NH3-TPD） |
| 38 | 低分辨質譜（MS） | 79 | 全自動壓汞儀（MIP） |
| 39 | 高分辨質譜（HRMS） | 80 | 振動樣品磁強計---慢掃（VSM） 快掃（VSM） |
| 40 | 氣相色譜（GC） | 81 | 橢偏儀 |
| 41 | 液相色譜（LC） | 82 | 高級旋轉流變儀（常溫流變）（高溫流變） |
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